從本質(zhì)上講，每種物質(zhì)要么透射光，要么吸收光，而物質(zhì)這樣做的頻率確定了該物質(zhì)是什么。光譜儀測(cè)量被分析物質(zhì)發(fā)出的頻率。由于它顯然不像距離或重量單位那樣容易或簡(jiǎn)單地測(cè)量，因此它確實(shí)有自己的單位來確定該頻率。許多類型的光譜儀使用輻射（例如X射線）引起樣品反應(yīng)，以確定其成分。這些類型的反應(yīng)不能簡(jiǎn)單地通過觀察反應(yīng)來確定，因?yàn)樗鼈兺ǔＪ侨搜鄄豢梢姷?。測(cè)量只能通過工具完成的。

　　

　　軟件特性：

　　1、不銹鋼C含量檢測(cè)專業(yè)分析曲線：C、Si、Al、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Nb、Mo、Se、W。

　　2、鐵基合金C含量檢測(cè)專業(yè)分析曲線：C、Si、Al、Ti、V、Cr、Mn、(不同含量Fe)、Co、Ni、Cu、Nb、Mo、W、Pb。

　　3、測(cè)量機(jī)體：包含但不限于碳鋼、低碳鋼、高碳鋼、鋁合金、低合金鋼、不銹鋼、鑄鐵、等項(xiàng)目。

　　4、標(biāo)準(zhǔn)庫中有標(biāo)準(zhǔn)合號(hào)高達(dá)500多種，用戶可自定義符合特殊要求的非標(biāo)牌號(hào)可高達(dá)幾百種。

　　使用激光獲得等離子體光譜，采用氬氣凈化功能，能提供精確的化學(xué)分析結(jié)果、很低的檢測(cè)限（0.01~0.1%），可攜帶的小巧氬氣瓶可提供高達(dá)500次測(cè)試。不用時(shí)，氣瓶出口被密封，沒有氣體消耗。

　　

　　系統(tǒng)誤差的來源有：

　　(1)標(biāo)樣和試樣中的含量和化學(xué)組成不相同時(shí)，可能弓|起基體線和分析線的強(qiáng)度改變，從而引入誤差。

　　(2)標(biāo)樣和試樣的物理性能不相同時(shí)，激發(fā)的特征譜線會(huì)有差別從而產(chǎn)生系統(tǒng)誤差。

　　(3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結(jié)構(gòu)不相同時(shí)，測(cè)出的數(shù)據(jù)會(huì)有所差別。

　　(4)末知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時(shí),混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差。

　　(5)要消除系統(tǒng)誤差，嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)樣品制備規(guī)定要求。為了檢查系統(tǒng)誤差，就需要采用化學(xué)分析方法分析多次校對(duì)結(jié)果。